●供电模块温度测试!
在供电模块中,MOSFET属于发热大户,而MOSFET的发热量与供电模块电路的设计和通过MOSFET的电流有关。如果同样采用65W TDP功耗的处理器,供电相数少的主板,供电模块所要通过的电流量会加倍上升,MOSFET因所要过滤的电流量增加,温度也将跟着上升。
三相供电设计的H61主板MOSFET温度
在测试中,我们采用Intel I3 2100处理器,分别在两款主板上做测试。通过同时运行Perme95和Furmark,让处理器一直处于满载工作状态。在平台运行30分钟后,分别对两款主板供电模块的MOSFET进行温度测量,可以看到,三相供电的H61主板,MOSFET温度高达85度,而六相供电的H61主板,MOSFET温度还不到40度,温度相差一倍。
在主板供电模块中,如果MOSFET长期处于高温下操作,会导致切换速度受到影响,并引起可靠度降低与寿命缩短等问题。此外,通道电阻会因为温度升高而随之增加,使得在元件中pn-接面(pn-junction)导致的功率损耗增加。假设外置的散热系统无法让MOSFET的温度保持在够低的水平,很有可能让这些MOSFET遭到热破坏(thermal runaway)的命运。
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