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加入集显对MCH内存效能的影响

整合市场硝烟再起 Intel G45/G43测试

CNET中国·ZOL 作者:中关村在线 马振华 责任编辑:向中 【原创】 2008年08月08日 06:00
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内存性能测试

  乍一看在G45芯片组上的400MHz×9.5 @3.8GHz和DDR2-800 4-4-4-12-2T,应该与P45或X48使用这一参数配置没有多大差异,但Everest的测试结果着实让我们大跌眼镜。那就是这两款芯片组的内存执行效能相对低下,各项传输带宽无力超过7000MB/s,尤其是内存潜伏周期竟高达80ns以上。可令人费解的是这一现象在同样定位于入门级的非整合芯片组P43上并无发生,或许是G45和G43的MCH芯片中存在GMA图形芯片影响了内存控制器的效率。


整合市场硝烟再起 Intel G45/G43测试
G45内存效能测试

整合市场硝烟再起 Intel G45/G43测试
G43内存效能测试

  初步判断是由于受到图形芯片的影响,导致它们北桥的内存性能欠佳。Intel革命尚未成功,RD仍需努力。

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